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SENTEC 圣德科 晶圆厚度测量系统 TMS-2000
SENTEC 圣德科 晶圆厚度测量系统 TMS-2000 可应对温度变化和机械震动等环境干扰的高精度测量
所属分类：
SENTEC 圣德科
产品编号：
无
- 产品描述
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SENTEC 圣德科 晶圆厚度测量系统 TMS-2000
可应对温度变化和机械震动等环境干扰的高精度测量
· 全晶圆范围的厚度测量，支持客制化扫描模式
· 照明 - 探测一体式光路
· 支持跨样本定量分析和对比
· 可适用于重掺硅、功率半导体、多层结构晶圆等
· 测量结果符合 SEMI 国际标准
· 更高的性价比
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